关于高斯计与磁通计你知道多少？

关于高斯与磁通

高斯（GS,G）

⾼斯是磁通密度（或“磁感应”）的cgs单位。⼀個⾼斯定义为每平⽅厘米⼀个maxwell。 cgs系統已被国际单位制（SI）取代，国际单位制（SI）采⽤特斯拉（T）作为磁通密度单位[1]⼀個⾼斯等于1×10-4特斯拉（100µT），所以1特斯拉= 10,000⾼斯。

磁通

定义：在物理学中，特別是电磁学，通过表⾯的磁通（通常表⽰为Φ或ΦB）是通过该表⾯的磁场B的正常分量的表⾯积分。磁通量的SI单位为韦伯（Wb）（以派⽣单位：伏秒），CGS单位为maxwell。磁通量通常⽤包含测量线圈和电子设备的磁通计测量，该测量线圈和电子部件评估测量线圈中的电压变化以计算磁通量。

高斯计与磁通计的作用

什么是磁通测试仪呢？高斯计与磁通计都是测量磁通的一种磁测量仪器。用于空间磁场的测量和材料的磁性研究。一般我们充磁机行业是用来测试磁性材料的充磁方向和磁力强弱的。

我们一般讲的高斯计是这样的。

然后磁通计。

为什么要对磁性材料进行测试？

在对一件产品进行充磁前只有通过高斯计或磁通计测试出磁性材料的磁场方向和磁力强弱才能把产品带到充磁线圈上进行充磁。这样可以保证不破坏产品本身的磁场，也更利于比较充磁前后磁场强度的区别。

高斯计与磁通计的优缺点

现在用于磁性测量的仪器主要是高斯计和磁通计。高斯计主要用于检测测量磁场，测量脉冲磁、电磁铁磁场，喇叭漏磁 , 充磁机磁场等。高斯计：方便快捷，直观，缺点是点测试，测不准，不同人

测量不一样，不同厂家高斯计测量的值不一样，同一台高斯计探头不同测量的值不一样，测试数据有很大的发散性，产生的原因是高斯计探头的芯片，探头封装的厚薄，芯片的位置，测试高斯值很难是同一点测试，芯片大小不同，还有磁体表磁不均匀，高斯计出厂标准是在均匀磁场中校准的，因此高斯计测量的值很难统一和比对。

磁通计主要用于测量：测量磁体表面磁场、磁体的磁通、永磁电机磁瓦磁通、喇叭漏磁磁通，也可用于产品的大批量检测，检测操作方便快捷，是测量磁场、磁通的理想仪器。磁通计使用上比高斯计多了一个调理的操作，还有就是测量的是磁体的整体平均值，可以反映磁体的整体性能，磁通量的值可以完全的比对和传递，测试工装夹具定了以后，与磁通计基本没有什么关系（磁通计必须定标校准，国家有标准的），同一个测试工装，不同磁通计测试的磁通值应该是一样的。这是磁通的最大好处。磁通可以反映磁体的整体性能，如，表磁高（某一点高，不能代表全部），磁通量不一定大；磁通量大磁通性能一定好（磁体体内的所有磁力线的综合）。